▍ 性能研发测试
▲ 主要测试参数
∷读写器有效辐射功率
∷读写器接收灵敏度
▲ 主要特点
∷多功能射频输出端口
∷图形化用户界面
∷支持直连法测试及空口辐射测试
∷支持监控读写器和标签之间的通信
▍ 射频协议研发测试
∷ Parameters:指令参数数据,主要解析信号指令信息;
∷ BurstInfo:Burst信息数据,主要判断Burst指令的起至时间和Burst长度;
∷ DemodInfo:Burst解调数据,主要解调前向/反向Burst的调制深度、调制方式、上/下过
冲、PW时间、反向速率、占空比等信息;
∷ RawData:Burst原始数据,主要解调前向/反向Burst的数据长度、编码信息、前导码信
息、前导码长度等信息;∷ CWInfo:载波信息,主要分析读写器载波上/下电信息。
▲ 主要特点
∷ 单仪表式测试,测试便捷、快速
∷ 根据信号强度自动设置触发电平,100%捕获通讯信号,无需频谱仪专家操作
∷ 完整分析信号特征,问题快速定位
∷ 保存IQ原始数据,方便数据对比、共享
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中科国技长期走在RFID市场第一线,通过与芯片、标签和读写器研发企业以及科研机构合作,深入理解客户在RFID芯片、标签与读写器的设计、生产与销售中遇到的各种挑战,提供专业、快捷的技术支持与服务。
测试系统支持标准:ISO 18000-6C、GB/T 29768、GJB 7377.1 |