中科国技标签芯片测试系统是一款集控制、测试与分析一体的测试解决方案，包含协议分析测试、覆盖性测试、芯片灵敏度测试三大功能。通常标签芯片研发测试项目众多、测试过程繁杂、结果定位难。而该款标签芯片测试系统能帮助研发人员进行自动化测试，大大缩短研发时间。 协议分析测试主要针对不同命令序列、不同命令参数下标签的响应情况；覆盖性测试则是自动生成大量不同测试组合，对标签进行全参数覆盖测试，快速定位主要问题所在；而芯片灵敏度测试则能自定义测试需求，检测宽频带内标签芯片灵敏度及反射功率变化。